アワード＆認定

SCM Microsystemsは製品・プロセス・会社に関連する各種の賞・認証を獲得しています。近年の事例を紹介致します。

アワード

SCM Microsystemsは合衆国政府プログラムとスマートカードリーダー市場の拡大に対する大きな貢献について、Market Leadership Awardを受賞しました

SCM Microsystemsは世界的に活動を広げているコンサルティングファーム、Frost & SullivanからNorth American Smart Card Readers Market Leadership Awardを受賞しました。

選定を行う上で、Frost & Sullivanのアナリストはアメリカ合衆国政府のスマートカードプログラム向けに200万台を超えるカードリーダーを提供してきたことなどの長年にわ たる市場での成果を強調しています。このプログラムでは、国防総省のプログラムであるCACカードを用いた軍人向けのセキュアなPCログインや、連邦政府 の全職員を対象としたPIVカードによる論理・物理アクセス制御などが行われています。

他の注目点として、SCM Microsystemsの広い範囲をカバーするスマートカードリーダーソリューションと、最近完了したHirsch Electronicsとの戦略的合併があります。

賞は市場戦略の実施を通じ、市場にてシェアリーダーとなった企業に贈られます。受賞者は市場のリーダーシップをとる中で、市場の課題、駆動源、妨げとなるものなどをつきとめ、それら市場の動きを戦略に組み込むなど、卓越した働きを示す事が求められます。

さらに、受賞者はつねに市場の変化を監視し、より優れた市場戦略を示していました。これら戦略を成功のために用いることで、各業界のマーケットシェアリーダーの地位を確立したのです。

関連するプレスリリースはこちらから見る事ができます。

SCM Microsystemsのe20モバイルスマートカードリーダーは2006年に名誉あるiF product design賞を、有名なデザイングループのiF Forum Design e.V.から受賞しました。

国際的トップクラスのデザイナーからなるiFの審査員が、37カ国から来た2000の製品を12のカテゴリーに 分けて評価しました。我々のe20リーダーはコンピューターのカテゴリーに含まれる265の製品と競争しました。製品はデザインのクオリティー、技術革新 度、環境適合性、エルゴノミクスの点において評価を受けます。1953年に開始されて以来、iF design賞は突出したデザインを示す一流のトレードマークであり続けています。iFのデザインコンテストは世界の主要なデザインのイベントのひとつで す。iFの印は最新のデザイントレンドの証であり、世界的なブランドとして認知された、価値あるものを示しています。

SCM Microsystems Microsystemsのe20モバイルスマートカードリーダーは、ドイツデザイン協議会から、2007年のドイツ連邦共和国デザインアワードにノミ ネートされました。企業はデザインアワードには参加できませんが、ドイツ連邦通商産業省もしくは連邦経済技術省からノミネートを受けます。

前提条件として、ノミネートを受ける製品はすでに国内もしくは国際デザイン賞を受賞していることが条件になりま す。SCM Microsystemsは2006年に、名誉あるiF product design賞を有名なデザイングループであるiF Forum Design e.V からe20に対して受けていますので、ドイツ連邦共和国の2007年デザインアワードの条件を満たしています。

証明書

SCM Microsystemsの非接触リーダーはベルリンでの国際相互運用性試験において優秀な成績を収めた

SCM Microsystems Microsystemsの無線周波数リーダーは、5月29日から6月1日にかけてベルリンで行われたe-パスポートの国際試験において、もっとも優秀な 成績を示しました。テスト期間中、e-パスポートのサンプルと各社のリーダーを組み合わせて試験が行われました。SCM Microsystemsのリーダーは90のe-パスポート 中、89を読むことができました。これはほぼ99％の成功率に値します。上位10社のe-パスポートリーダーのうちにも、SCM Microsystemsの無線技術を用いたリー ダーが複数含まれていました。それにより、イベントに参加した47社のうち、当社はもっとも成績優秀な供給メーカーのひとつとなりました。

SCM Microsystemsはシンガポールにおけるe-パスポートの互換性試験に成功裏に参加しました

2005年の11月7,8日に、e-パスポートと、関連するリーダーの互換性規格の開発と定義にかかわる一連の 互換性試験における、最後の試験がシンガポールにて行われました。試験は業界と政府が多対多の交差試験を行う場としての役割を果たしています。参加者は直 接、互換性・相互運用性に関する問題を確認し、製品の品質向上を図る機会にもなっています。2004年にアメリカ・オーストラリアで開かれた最初の相互運 用性試験から数えて4回目の試験でした。

28カ国から85の業界・政府組織、40のパスポートリーダー、140のパスポートのサンプル、250の代表者が最近のセッションに参加しました。56％のリーダーはISO/IEC 14443 type Aのチップを、44％がtype Bのチップを搭載していました。

SCM Microsystems Microsystemsのe-パスポートリーダーは、参加したe-パスポートスキャナーのうち、約40％に組み込まれていました。それは当社がカスタマ イズモジュールやリーダーを主要な業界団体と複数の政府に対し、組み込み用モジュールとして提供しているからです。e-モジュールは、以前の試験において すでに証明された、優れた結果を示しました。

e-パスポートやリーダーにおいて、パフォーマンスの点において全体的に大きな改良がなされました。たとえば、 セキュアな読み出し（BAC:基本アクセス制御）はデータサイズによりますが、2～4秒に向上しました。これは以前の試験セッションと比較して著しい改善 です。同様に、以前の試験と比較してはるかに多数のパスポートとリーダーが現行の規格に適合しています。0cmの距離において、ISO/IEC-Aのサン プルの交差読み込みは94％程の成功率を、type Bでは84％程の成功率を示しています。

IDA Cerficate | PDF 177 KB

SCM MicrosystemsのISO 9001:2008品質マネジメント基準認証は、顧客・体制・従業員に対する我々の品質管理原則へのコミットメントを示しています。

ISO 9001:2008 Certificate | PDF 295 KB